新款四探针电阻率测试仪 FTDZS-I 北京冠测精电仪器设备有限公司

好产品信息

查看大图

产品名称：新款四探针电阻率测试仪
产品型号：FTDZS-I
产品厂商：北京冠测
产品价格：0
折扣价格：0
产品文档：

你添加了1件商品查看购物车

简单介绍：

该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

详情介绍：

测量半导电电阻率时：电阻率10^-4--10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

测量其他（落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪）电阻时：电阻10^-4--2X10⁵Ω，分辨率1uΩ

二、号码端电压表： 1．分度值 2 mV、20 mV、200 mV、2V 2．量测出现偏差的原因 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3．表示4 1/2 十位数字表示0—19999更具导电性和负载自行表示，小数点、计量单位自行表示。三、恒流源： 1．瞬时电流模拟输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA． 2. 功率误差率：±(0.5%读数+2字)

子标题：

知识：

找话题人：

找话题电话号：

Email：

厂家名字大全：

沟通位置：

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!

2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

落球回弹试验仪,介电击穿强度测定仪

产品名称：新款四探针电阻率测试仪